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| R&S引领集成电路测试解决方案 |
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2008年国际集成电路研讨会暨展览会 |
作者： 时间：2008-02-18 14:43:13 来源: 通讯世界网
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在近日于上海世贸商城举办的2008年国际集成电路研讨会暨展览会上，罗德与施瓦茨公司将展示其全面领先的射频和微波测试解决方案。
移动无线通信市场正在不断地发生着变化，R&S公司可提供手机集成电路的各种测试解决方案：R&S® CRTU 模拟一个基站并记录所有消息，这样就能够对移动台中的协议栈进行详细的分析，有助于芯片组的开发；音频分析仪R&S® UPV，可完成音频领域的几乎所有的测量，可对音频放大器，A/D变换器和数字滤波器进行测试；针对射频部分的测试，无线通信测试仪R&S® CMU200 拥有多种优异特性，最重要的两个特性是极快的测量速度和很高的准确度，因而能够带来极佳的成本效率。
随着集成电路的频率越来越高，集成的晶体管数目越来越多，集成电路的电源电压越来越低，加工芯片的特征尺寸进一步减小，使得芯片级电磁兼容性显得尤为突出。R&S公司的认证型接收机R&S® ESCI、ESU，结合各种附件，即可完成集成电路电磁发射测试，R&S®ESCI同时具有接收机和频谱仪的功能，完全符合标准CISPR16-1-1；抗扰度测试方面，R&S®IMS是一款紧凑型的测试设备，覆盖频率9 kHz到3 GHz，它内置了信号源、切换开关、功率计和功放，同时也可控制外置功放，通过GPIB总线可由R&S EMC32软件包实现全自动测试。
在通用测量方面，R&S公司有各种信号源和频谱仪可供选择。基带源R&S®AMU200A能提供两路相关且带衰落模拟的信号，可以对MIMO进行验证测试；模拟源R&S®SMA100A具有杰出的信号源特性：信号质量好，速度快以及操作方便；微波源R&S®SMF由于它极高的功率输出和极好的单边带相位噪声获得了良好的市场反馈；矢量信号发生器R&S® SMU200A用于现代通信系统在研究、开发和生产之中的所有要求，它不仅将两个独立的信号发生器集成到一台设备中，而且还能提供无与伦比的射频和基带特点。R&S公司的频谱分析仪以其创新性的测量和一系列标准功能而超然出众：从手持式的R&S® FSH到高端的信号分析仪R&S® FSQ，加上基带分析仪R&S® FMU，为客户提供全系列的解决方案。
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